X射線輻射得有效檢測(cè)對(duì)于醫(yī)療診斷、無(wú)損檢測(cè)、China安全和空間探索至關(guān)重要。閃爍體能將高能X射線輻射轉(zhuǎn)換為傳統(tǒng)光電探測(cè)器(如非晶硅光電二極管、光電倍增管等)可以檢測(cè)到得低能紫外/可見光光子，是獲得電子格式X射線圖像得一種低成本和可靠得檢測(cè)方法。近年來(lái)，包括具有有效輻射發(fā)光得CsPbBr3得膠體閃爍體在低成本射線照相和靈活得X射線成像應(yīng)用中受到持續(xù)感謝對(duì)創(chuàng)作者的支持。鹵化物鈣鈦礦是一種新興得X射線成像閃爍材料。高質(zhì)量得X射線成像通常要求高空間分辨率和長(zhǎng)工作壽命，特別是對(duì)于不規(guī)則形狀得目標(biāo)對(duì)象。

來(lái)自昆明理工大學(xué)等單位得學(xué)者設(shè)計(jì)了一種鈣鈦礦型“聚合物-陶瓷”閃爍體，將鹵化物鈣鈦礦納米晶生長(zhǎng)在高粘度(6×1012CP)得預(yù)固化聚合物結(jié)構(gòu)中，以構(gòu)建靈活、可刷新得X射線成像。感謝提出了一種成核抑制策略，以防止鈣鈦礦晶體在隨后得沉淀過程中團(tuán)聚和Ostwald熟化，從而使高質(zhì)量得聚合物陶瓷閃爍體具有高透明度。這種基于閃爍體得探測(cè)器得探測(cè)極限為120nGy s-1，空間分辨率為12.5lp mm-1。有趣得是，由于聚合物基質(zhì)提供得剝離原子得錨定效應(yīng)，閃爍體薄膜在長(zhǎng)時(shí)間(≥3h)和高劑量(8mGys-1)照射后可以重生。更重要得是，這一固有特性克服了鈣鈦礦型閃爍體使用壽命長(zhǎng)得問題。感謝對(duì)聚合物陶瓷閃爍體得探索為開發(fā)柔性耐用得鈣鈦礦閃爍體鋪平了道路，這種閃爍體可以以較低得運(yùn)行成本生產(chǎn)出來(lái)。相關(guān)文章以“All-Inorganic Perovskite Polymer–Ceramics for Flexible and Refreshable X-Ray Imaging”標(biāo)題發(fā)表在Advanced Functional Materials。更多精彩可以視頻請(qǐng)抖音搜索‘材料科學(xué)網(wǎng)’。

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感謝分享doi.org/10.1002/adfm.202107424

圖1.a)所研究得CsPbBr3基聚合物陶瓷得示意圖，b)紅外透射光譜，c)XRD圖譜，d)熱退火前后得鈣鈦礦型薄膜得發(fā)射光譜，圖1d中得插圖是365 nm紫外光照射下得薄膜得相應(yīng)照片。

圖2.a)放置在80°C電熱板上得CsPbBr3嵌入聚合物薄膜得照片，在紫外光照射下從0到120s記錄下來(lái)。b)TEM圖像顯示了CsPbBr3 PNC在電子輻照下成核前得聚合物膜以及隨后得成核和生長(zhǎng)過程，電子束強(qiáng)度為2.7×102e-2s-1。在110s處捕獲得TEM圖像得內(nèi)嵌是相應(yīng)析出得CsPbBr3 PNC得HR-TEM圖像。

圖3.a)CsPbBr3聚合物陶瓷在相對(duì)濕度達(dá)到40%得環(huán)境下得輻射發(fā)光(RL)譜。插圖分別是在高透明度得自然光和紫外光照射下得到得5×5cm2得膠片。b)輻射強(qiáng)度與劑量呈線性關(guān)系。c)記錄CsPbBr3聚合物陶瓷在X射線輻照前后連續(xù)60個(gè)循環(huán)得輻射強(qiáng)度。d)感謝設(shè)計(jì)得間接X射線成像系統(tǒng)原理圖。

圖4.a)CsPbBr3聚合物陶瓷得柔韌性。采用柔性閃爍體得間接X射線成像方法：b)附著式；c)投影式。d)相應(yīng)得間接X線成像方式得差異。e)彎曲目標(biāo)得X射線圖像，分別帶有附加成像和投影成像，以及它們對(duì)應(yīng)得目標(biāo)得指定位置(A、B、C和D)得MTF。

圖5.a)用于X射線成像長(zhǎng)期應(yīng)用得損傷修復(fù)鈣鈦礦薄膜示意圖。b)研究得閃爍體在自然和紫外光照射下得損傷修復(fù)過程.c)X射線成像質(zhì)量得論證取決于閃爍體得質(zhì)量。

綜上所述，感謝實(shí)現(xiàn)了適用于多種場(chǎng)合高分辨率X射線探測(cè)得柔性透明鈣鈦礦型聚合物陶瓷。獲得高性能聚合物陶瓷得關(guān)鍵是聚合物PMMA得高粘度環(huán)境，這保證了CsPbBr3 PNC得均勻成核和結(jié)晶，沒有團(tuán)聚和Ostwald熟化。閃爍屏得圖像空間分辨率可達(dá)12.5lp mm?1，探測(cè)下限為120nGys?1。此外，該閃爍屏得靈活性使其能夠?qū)Σ灰?guī)則物體進(jìn)行高分辨率成像。此外，感謝還注意到，在高劑量X射線輻射得影響下，損傷得CsPbBr3 PNC可以通過后退火處理完全恢復(fù)。因此，高性能聚合物陶瓷可以長(zhǎng)期應(yīng)用于高分辨率X射線成像。（文：SSC）

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